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顆粒形狀簡稱粒形，目前表征粒形大多對其投影面的外形輪廓線進行測量和研究，包括輪廓線外形及其粗糙度等，所用 的手段都是具有圖像分析功能的顯微顆粒圖像粒度粒形分析系 統(tǒng)。粒形研究常見的是對一些特殊形狀顆粒的表征，如粒狀顆粒的的圓形度、長條狀顆粒的長徑比、片狀顆粒的徑厚比等。 他們都是要先拍攝顯微圖像，然后通過專用軟件進行分析得到 的。具體分析方法是：（1）圓形度：與顆粒面積相等的圓的周 長除以顆粒的實際周長（另外還有“周長等效直徑除以面積等 效直徑”等不同算法）。但不管哪種算法，都是數(shù)值越接近 1的顆粒圓形度越好，數(shù)值越遠離 1 的顆粒圓形度越不好。（2） 長徑比：顆粒外接矩形的長度與顆粒的平均寬度之比。（3）徑厚比：顆粒的等面積圓直徑與厚度之比。激光粒度分析儀
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